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• 000 00868nam0 2200289 450

• 001 0000865494

• 005 20241110120723.5

• 010 __ |a 15119.2034 |d CNY1.15

• 091 __ |a 15119.2034

• 100 __ |a 19960215d1980 em y0chiy0110 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 310000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体测量和仪器 |9 ban dao ti ce liang he yi qi |b 专著 |f (美)鲁尼安(W.R.Runyan)编著

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术出版社 |d 1980

• 215 __ |a 322页 |d 20cm

• 300 __ |a 书名原文:Semiconductor measurements and instrumentatio

• 510 1_ |a Semiconductor measurements and instrumentation |z eng

• 606 0_ |a 半导体材料 |x 测试

• 606 0_ |a 半导体器件 |x 测试

• 690 __ |a TN307 |v 5

• 701 _1 |a 鲁尼安 |9 lu ni an |b W.R. |4 编著

• 701 _1 |a Runyan |b W.R. |4 编著

• 710 __ |a 本社编

• 801 _0 |a CN |b 邵阳学院 |c 20241110

• 905 __ |a SYXY |d TN307/7