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• 000 01007nam0 2200301 450

• 001 0000840755

• 005 20241019122648.6

• 010 __ |a 151634.211 |d CNY1.50

• 091 __ |a 151634.211 |d CNY1.50

• 100 __ |a 20060414d1974 em y0chiy0121 ea

• 101 1_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 310000

• 105 __ |a a a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 国外测试新技术 |9 guo wai ce shi xin ji shu |e 晶体中缺陷的X射线貌相术观察 |f 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术情报研究所 |d 1974

• 215 __ |a 191页 |c 图 |d 26cm

• 304 __ |a 题名、责任者取自版权页

• 320 __ |a 有书目

• 517 1_ |a 晶体中缺陷的X射线貌相术观察 |9 jing ti zhong que xian de X she xian mao xiang shu guan cha

• 606 0_ |a 半导体技术 |x 测量 |y 外国

• 690 __ |a O72-5 |v 5

• 690 __ |a TN307 |v 5

• 701 __ |4 主编

• 710 __ |a 本社编

• 711 02 |a 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室 |9 zhong guo ke xue yuan shang hai ye jin yan jiu suo X she xian shi yan shi |4 译

• 801 _0 |a CN |b 邵阳学院 |c 20241019

• 905 __ |a SYXY |d O72-5/1