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• 000 01743nam 2200373 450

• 001 0000251885

• 005 20180413085417.0

• 010 __ |a 978-7-121-29097-8 |d CNY59.00

• 100 __ |a 20160801d2016 ekmy0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 现代电子系统软错误 |A xian dai dian zi xi tong ruan cuo wu |d = Soft errors in modern electronic systems |f (法) Michael Nicolaidis主编 |g 韩郑生, 毕津顺译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2016

• 215 __ |a 16, 240页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国防电子信息技术丛书 |A guo fang dian zi xin xi ji shu cong shu

• 305 __ |a 据Springer US 2011年英文版译

• 314 __ |a 责任者Nicolaidis规范汉译姓: 尼古拉迪斯

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书系统阐述了软错误发生的复杂物理过程，全书共分为10章。主要介绍了软错误研究历史和未来发展趋势；单粒子效应发生机制与分类；JEDEC标准；门级建模与仿真；电路级和系统级单粒子效应建模与仿真；硬件故障注入；采用加速测试与错误率预估技术，评估验证面向空间或地面环境的集成电路；电路级软错误抑制技术；软件级软错误抑制技术；高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。全书总结了过去，预测了未来趋势，阐述了单粒子的翻转物理机制、建模、软错误抑制技术以及业界和学界的研究成果。

• 410 _0 |1 2001 |a 国防电子信息技术丛书

• 500 10 |a Soft errors in modern electronic systems |m Chinese

• 606 0_ |a 电子系统 |A dian zi xi tong |x 研究

• 690 __ |a TN103 |v 5

• 701 _1 |a 尼古拉迪斯 |A ni gu la di si |g (Nicolaidis, Michael) |4 主编

• 702 _0 |a 韩郑生 |A han zheng sheng |4 译

• 702 _0 |a 毕津顺 |A bi jin shun |4 译

• 801 _0 |a CN |b HD |c 20160811

• 801 _2 |a CN |b LIY |c 20180413

• 905 __ |a SYXY |d TN103/9

• 907 __ |a SYXY |y 2011 |h |d TN103 |r CNY59.00 |e 9

• 908 __ |a 0101218880

• 908 __ |a 0000251885