机读格式显示(MARC)

• 000 01750oam2 2200385 450

• 001 0000232560

• 005 20161102080125.0

• 010 __ |a 978-7-121-28197-6 |d CNY79.00

• 100 __ |a 20160420d2016 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 空间单粒子效应 |9 kong jian dan li zi xiao ying |d Single event effects in aerospace |e 影响航天电子系统的危险因素 |f (美)Edward Petersen著 |g 韩郑生[等]译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2016.03

• 215 __ |a 11,303页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国防电子信息技术丛书

• 306 __ |a 由美国John Wiley & Sons. Inc.公司授权出版

• 330 __ |a 本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应，器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法，及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章，第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识；第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法；第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应；第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估；第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。

• 333 __ |a 单粒子态相关专业人员

• 461 _0 |1 2001 |a 国防电子信息技术丛书

• 510 1_ |a Single event effects in aerospace |z eng

• 517 1_ |a 影响航天电子系统的危险因素 |9 ying xiang hang tian dian zi xi tong de wei xian yin su

• 606 0_ |a 单粒子态

• 690 __ |a O571.24 |v 5

• 701 _0 |c (美) |a 彼得森 |9 bi de sen |c (Petersen, Edward) |4 著

• 702 _0 |a 韩郑生 |9 han zheng sheng |4 译

• 702 _0 |a 沈自才 |9 shen zi cai |4 译

• 702 _0 |a 丁义刚 |9 ding yi gang |4 译

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20160420

• 801 _2 |a CN |b LIY |c 20161102

• 905 __ |a SYXY |d O571.24/1

• 907 __ |a SYXY |y 2016 |h |d O571.24 |r CNY79.00 |e 1

• 908 __ |a 0101199149

• 908 __ |a 0000232560