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• 005 20180426082854.0

• 010 __ |a 978-7-111-52184-6 |d CNY59.90

• 100 __ |a 20160203d2016 em y0chiy50 ea

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• 200 1_ |a 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 |A Na Mi CMOS Ji Cheng Dian Lu Zhong De Xiao Yan Chi Que Xian Jian Ce |f (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编 |g 续海涛等译

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2016

• 215 __ |a XIII, 191页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 国际信息个程先进技术译丛 |A Guo Ji Xin Xi Ge Cheng Xian Jin Ji Shu Yi Cong

• 312 __ |a 英文题名取自封面

• 320 __ |a 有书目 (第184-191页)

• 330 __ |a 本书分为4个部分：第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成（ATPG）；第2部分关于全速测试，并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD；第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案，可以在ATPG和基于电路拓扑的解决方案之间进行折衷；第4部分介绍了SDD的测试标准，以量化的指标来评估SDD覆盖率。本书内容由简入深，对SDD测试全面展开，有助于提高读者的理解和掌握。

• 410 _0 |1 2001 |a 国际信息个程先进技术译丛

• 500 10 |a Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits |m Chinese

• 606 0_ |a 纳米材料 |A Na Mi Cai Liao |x MOS集成电路 |x 缺陷检测

• 690 __ |a TN432 |v 5

• 701 _1 |a 戈埃尔 |A Ge Ai Er |g (Goel, Sandeep) |4 主编

• 701 _1 |a 查克拉巴蒂 |A Zha Ke La Ba Di |g (Charkrabarty, Krishnendu) |4 主编

• 702 _0 |a 续海涛 |A Xu Hai Tao |4 译

• 801 _0 |a CN |b HD |c 20160203

• 801 _2 |a CN |b LIY |c 20180426

• 905 __ |a SYXY |d TN432/7

• 907 __ |a SYXY |y 2011 |h |d TN432 |r CNY59.90 |e 7

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