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• 200 1_ |a 单板级JTAG测试技术 |A dan ban ji JTAG ce shi ji shu |f 王承，刘治国编著

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a 10,205页 |c 图 |d 21cm

• 330 __ |a 本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。书中内容包括：基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串行测试矢量；内建自测试和仿真测试；基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。

• 606 0_ |a 集成电路 |x 测试技术

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 王承 |A wang cheng |f (1976-) |4 编著

• 701 _0 |a 刘治国 |A liu zhi guo |f (1977-) |4 编著

• 801 _0 |a CN |b HNZX |c 20160827

• 801 _2 |a CN |b LIY |c 20161102

• 905 __ |a SYXY |d TN407/3

• 907 __ |a SYXY |y 2016 |h |d TN407 |r CNY58.00 |e 3

• 908 __ |a 0101199165

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