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• 000 01872nam 2200397 450

• 001 0000251539

• 005 20180411083851.0

• 010 __ |a 978-7-111-56987-9 |d CNY125.00

• 100 __ |a 20170913d2017 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 纳米级集成电路系统电源完整性分析 |A Na Mi Ji Ji Cheng Dian Lu Xi Tong Dian Yuan Wan Zheng Xing Fen Xi |f (日) 桥本正德, (美) 拉杰·耐尔等著 |g 戴澜, 陈铖颖, 张晓波译

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2017

• 215 __ |a XV, 314页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 微电子与集成电路先进技术丛书 |A Wei Dian Zi Yu Ji Cheng Dian Lu Xian Jin Ji Shu Cong Shu

• 306 __ |a 由麦格劳-希尔 (亚洲) 教育出版公司和机械工业出版社合作出版, 仅限中国大陆地区销售

• 312 __ |a 英文题名取自封面

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 进入21世纪以来，集成电路制造工艺的发展日新月异，目前已经进入到了前所未有的纳米级阶段。电源完整性作为系统级芯片设计的重要课题，直接影响到集成电路的可靠性、性能以及功耗。因此，本书作者以系统级电源完整性为切入点，深入探讨了电源完整性的影响、时钟产生及分布、输入/输出单元中的电源完整性设计、电源完整性建模、温度效应以及低功耗电源完整性设计等方面的问题，并以IBMPOWER7+处理器芯片作为实例进行分析，后针对新型碳纳米管互连元件在电源完整性中的应用做了简要讨论。

• 410 _0 |1 2001 |a 微电子与集成电路先进技术丛书

• 500 10 |a Power integrity for nanoscale integrated systems |m Chinese

• 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 电源电路

• 690 __ |a TN86 |v 5

• 701 _0 |a 桥本正德 |A Qiao Ben Zheng De |4 著

• 701 _1 |a 耐尔 |A Nai Er |g (Nair, Raj) |4 著

• 702 _0 |a 戴澜 |A Dai Lan |4 译

• 702 _0 |a 陈铖颖 |A Chen Cheng Ying |4 译

• 702 _0 |a 张晓波 |A Zhang Xiao Bo |4 译

• 801 _0 |a CN |b HD |c 20170913

• 801 _2 |a CN |b LIY |c 20180411

• 905 __ |a SYXY |d TN86/38

• 907 __ |a SYXY |y 2018 |h |d TN86 |r CNY125.00 |e 38

• 908 __ |a 0101218533

• 908 __ |a 0000251539