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• 010 __ |a 978-7-122-33416-9 |d CNY88.00

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• 200 1_ |a 纳米材料的X射线分析 |A na mi cai liao de X she xian fen xi |d = X-ray analysis of nano materials |f 程国峰, 杨传铮编著 |z eng

• 205 __ |a 第2版

• 210 __ |a 北京 |c 化学工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a 351页 |c 图 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书是主要介绍利用X射线等激发样品从而表征材料结构，特别是纳米材料晶体结构相关信息的专著。考虑到纳米材料的特殊性，本书分为三个部分：晶体学基础、X射线衍射理论基础、X射线实验装置和方法等四章为基础部分；中间部分是X射线衍射分析方法和应用，包括物相定性和定量、晶体学参数测定、纳米材料微结构的衍射线形分析、Rietveld结构精修和小角散射等；最后介绍了化学组成和原子价态、纳米薄膜和介孔材料等的X射线分析。

• 510 1_ |a X-ray analysis of nano materials |z eng

• 606 0_ |a 纳米材料 |A na mi cai liao |x X射线 |x 分析

• 690 __ |a TB383 |v 5

• 701 _0 |a 程国峰 |A cheng guo feng |4 编著

• 701 _0 |a 杨传铮 |A yang chuan zheng |4 编著

• 801 _0 |a CN |b HD |c 20200107

• 905 __ |a SYXY |d TB383/113