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• 010 __ |a 978-7-03-027894-4 |b 精装 |d CNY58.00

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• 200 1_ |a 数字集成电路测试优化 |9 shu zi ji cheng dian lu ce shi you hua |e 测试压缩、测试功耗优化、测试调度 |f 李晓维[等]著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2010

• 215 __ |a 11,344页 |d 24cm

• 300 __ |a 中国科学院科学出版基金资助出版

• 304 __ |a 著者还有：韩银和、胡瑜、李佳

• 330 __ |a 本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。

• 606 0_ |a 数字集成电路 |x 测试技术

• 606 0_ |a 数字集成电路

• 606 0_ |a 测试技术

• 690 __ |a TN431.207 |v 4

• 701 _0 |a 李晓维 |9 li xiao wei |4 著

• 801 _0 |a CN |b NLC |c 20100811

• 801 _2 |a CN |b LIY |c 20101116

• 905 __ |a SYXY |d TN431.207/2

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