检索到 9 条 分类号=TN307 的结果
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中文图书1.国外测试新技术:晶体中缺陷的X射线貌相术观察 O72-5/1
馆藏复本：1
可借复本：1 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译
上海科学技术情报研究所 1974
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中文图书2.半导体测量和仪器 TN307/7
馆藏复本：1
可借复本：1 (美)鲁尼安(W.R.Runyan)编著
上海科学技术出版社 1980
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中文图书3.测试 TN307/5
馆藏复本：2
可借复本：2 《半导体器件制造技术丛书》编写组编
国防工业出版社 1972
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中文图书4.晶体管特性图示仪原理与使用 TN307/8
馆藏复本：3
可借复本：3 梁华编著
人民邮电出版社 1986
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中文图书5.半导体存储器及其测试 TN307/3
馆藏复本：3
可借复本：3 林雨编著
科学出版社 1980
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中文图书6.微电子测试结构 TN307/2*1
馆藏复本：5
可借复本：5 孙沩等编著
华东师范大学出版社 1984
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中文图书7.怎样用万能表测试晶体管 TN307/4
馆藏复本：1
可借复本：1 王永江
人民邮电出版社 1977
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中文图书8.怎样用万用表测试晶体管 TN307/1
馆藏复本：3
可借复本：3 王永江编著
人民邮电出版社 1977
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中文图书9.半导体测试技术 TN304.07/2, TN307/2
馆藏复本：6
可借复本：5 孙以材编著
冶金工业出版社 1984
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