检索到 5 条 分类号=TN307 的结果
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中文图书1.怎样用万用表测试晶体管 TN307/1
馆藏复本：3
可借复本：3 王永江编著
人民邮电出版社 1977
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中文图书2.半导体测试技术 TN304.07/2, TN307/2
馆藏复本：6
可借复本：5 孙以材编著
冶金工业出版社 1984
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中文图书3.怎样用万能表测试晶体管 TN307/4
馆藏复本：1
可借复本：1 王永江
人民邮电出版社 1977
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中文图书4.半导体存储器及其测试 TN307/3
馆藏复本：3
可借复本：3 林雨编著
科学出版社 1980
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中文图书5.微电子测试结构 TN307/2*1
馆藏复本：5
可借复本：5 孙沩等编著
华东师范大学出版社 1984
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