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中文图书1.电子元器件失效分析技术 TN601/1
馆藏复本：6
可借复本：6 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2015
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中文图书2.ESD揭秘:静电防护原理和典型应用:from semiconductor manufacturing to product use TN430.2/2
馆藏复本：4
可借复本：3 (美)Steven H. Voldman著
机械工业出版社 2014
(0) 馆藏
