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题名/责任者:

二维X射线衍射/(美)贺保平(Bob B. He)著 程国峰主译

出版发行项:

北京:化学工业出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-122-35551-5 精装/CNY158.00

载体形态项:

370页;26cm

并列正题名:

Two-dimensional X-Ray diffraction

个人责任者:

(美) 贺保平 (He, Bob B.) 著

个人次要责任者:

程国峰 主译

学科主题:

二维-X射线衍射-研究

中图法分类号:

O434.1

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书系统地介绍了二维X射线衍射的原理、实验方法、应用技术及应用领域。内容涵盖X射线光源、二维探测器、测角仪和光路,以及衍射数据处理与解析(物相定性、微观结构分析、残余应力分析、织构分析、结晶度测量、薄膜分析、小角散射等),并给出了很多先进材料和药物等的具体分析实例,如用于检查各种样品,包括金属、聚合物、陶瓷、半导体、薄膜、涂料、生物材料、复合材料等。本书可供材料、化学、物理、药学等专业研究人员,从事X射线衍射结构表征相关的研究生、检测人员、技术人员等参考阅读。

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