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题名/责任者:

过电应力 (EOS) 器件、电路与系统/(美) 史蒂文 H. 沃尔德曼著 雷鑑铭等译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2016

ISBN及定价:

978-7-111-52318-5/CNY79.00

载体形态项:

xx, 286页:图;24cm

统一题名:

Electrical overstress (EOS): devices, circuits and systems

丛编项:

国际电气工程先进技术译丛

个人责任者:

沃尔德曼 (Voldman, Steven H.) 著

个人次要责任者:

雷鑑铭 译

学科主题:

电子元件-过电流保护-研究

学科主题:

电子元件-过电压保护-研究

学科主题:

电子器件-过电流保护-研究

中图法分类号:

TN60

版本附注:

Wiley授权出版

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书系统地介绍了过电应力（EOS）器件、电路与系统设计，并给出了大量实例，将EOS理论工程化。主要内容有EOS基础、EOS现象、EOS成因、EOS源、EOS物理及EOS失效机制，EOS电路与系统设计及EDA，半导体器件、电路与系统中的EOS失效及EOS片上与系统设计。本书是作者半导体器件可靠性系列书籍的延续。对于专业模拟集成电路及射频集成电路设计工程师，以及系统ESD工程师具有较高的参考价值。随着纳米电子时代的到来，本书是一本重要的参考书，同时也是面向现代技术问题有益的启示。

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