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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:2

题名/责任者:
多圈QFN封装热-机械可靠性研究/夏国峰著
出版发行项:
北京:北京出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-200-16366-7/CNY48.00
载体形态项:
154页:图;26cm
个人责任者:
夏国峰
学科主题:
封装工艺-可靠性-研究
中图法分类号:
TN405.94
提要文摘附注:
本书针对多圈QFN封装系列产品在设计、封装制造工艺和服役阶段整个过程的热机械可靠性问题展开研究。全书共八章,内容包括:塑封料固化反应实验研究与固化动力学模型、多圈QFN电子封装翘曲数值模拟与工艺参数优化等。
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