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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:6

题名/责任者:
《中子嬗变掺杂(NTD)硅单晶应用与性能》/北京可控硅技术应用研究所 编著
出版发行项:
北京:北京可控硅技术应用研究所,1980.5
ISBN及定价:
平装/CNY2
载体形态项:
56页;16开
个人责任者:
北京可控硅技术应用研究所 编著
中图法分类号:
TN34
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN34/28 B1007165   七里坪旧书库(B103) T0443051     可借 七里坪旧书库(B103)
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