MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：1
- 题名/责任者:
- 国外测试新技术:晶体中缺陷的X射线貌相术观察/中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术情报研究所,1974
- ISBN及定价:
- 151634.211/CNY1.50
- 载体形态项:
- 191页:图;26cm
- 其它题名:
- 晶体中缺陷的X射线貌相术观察
- 个人责任者:
- 主编
- 团体主要责任者:
- 本社编
- 团体责任者:
- 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室 译
- 学科主题:
- 半导体技术-测量-外国
- 中图法分类号:
- O72-5
- 中图法分类号:
- TN307
- 题名责任附注:
- 题名、责任者取自版权页
- 书目附注:
- 有书目
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| O72-5/1 | MJ261847 |  B102密集书库（七里坪）
QB232632 |
新书：正在上架 | B102密集书库（七里坪） |
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