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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:7

题名/责任者:
基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究/谢小军著
出版发行项:
西安:西安交通大学出版社,2017
ISBN及定价:
978-7-5605-9902-1/CNY42.00
载体形态项:
123页:图;24cm
丛编项:
“十三五”学术文库系列
个人责任者:
谢小军
学科主题:
绝缘材料-介电性质-研究
中图法分类号:
TM21
书目附注:
有书目 (第115-123页)
提要文摘附注:
本文针对这两种不同的电介质材料, 研究如何准确建立微观结构模型, 并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性, 分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性, 分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性, 进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性, 指导材料的应用具有重要意义。
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TM21/6 A3004998   自然科学书库(七里坪新馆六楼)     可借 自然科学书库(七里坪新馆六楼)
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