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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:11

题名/责任者:
计算光刻与版图优化/韦亚一 ... [等] 著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2021.01
ISBN及定价:
978-7-121-40226-5/CNY79.00
载体形态项:
X, 238页:图;26cm
并列正题名:
Computational lithography & layout optimization
丛编项:
集成电路技术丛书
丛编项:
中国科学院大学研究生教学辅导书系列
个人责任者:
韦亚一
学科主题:
集成电路工艺-电子束光刻-研究生-教材
中图法分类号:
TN405.98
题名责任附注:
题名页题其余责任者: 粟雅娟, 董立松, 陈利斌, 陈睿, 赵利俊
相关题名附注:
英文题名取自封面
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书共7章, 首先对集成电路设计与制造的流程做简要介绍, 接着介绍集成电路物理设计 (版图设计) 的全流程, 然后介绍光刻模型、分辨率增强技术、刻蚀效应修正、可制造性设计, 最后介绍设计与工艺协同优化。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN405.98/2 A3057969   自然科学书库(七里坪新馆六楼)     可借 自然科学书库(七里坪新馆六楼)
TN405.98/2 A3057970   自然科学书库(七里坪新馆六楼)     可借 自然科学书库(七里坪新馆六楼)
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