MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：1
- 题名/责任者:
- 测试/《半导体器件制造技术丛书》编写组编
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,1972
- ISBN及定价:
- 15034.1270/CNY0.95
- 载体形态项:
- 350页:图表;19cm
- 丛编项:
- 半导体器件制造技术丛书;11
- 个人责任者:
- 主编
- 团体主要责任者:
- 本社编
- 团体责任者:
- 半导体器件制造技术丛书编写组 编
- 学科主题:
- 半导体技术-测试
- 中图法分类号:
- TN307
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN307/5 | MJ247818 |  B102密集书库（七里坪）
QB218603 |
新书：正在上架 | B102密集书库（七里坪） | |
| TN307/5 | MJ301915 | B102密集书库（七里坪）
QB272700 |
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