MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 半导体器件可靠性与失效分析/卢其庆
- 出版发行项:
- 江苏:江苏科学技术出版社,1981
- ISBN及定价:
- 平装/CNY1.70
- 载体形态项:
- 278页;16开
- 个人责任者:
- 卢其庆 著
- 中图法分类号:
- TN303-43
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN303-43/2 | A4041836 |  七里坪旧书库（B103）
T0090994 |
可借 | 七里坪旧书库（B103） | |
| TN303-43/2 | A4041837 | 七里坪旧书库（B103）
T0090995 |
可借 | 七里坪旧书库（B103） | |
| TN303-43/2 | A4073544 | 七里坪旧书库（B103）
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| TN303-43/2 | A4073545 | 七里坪旧书库（B103）
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| TN303-43/2 | B1023479 | 七里坪旧书库（B103）
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| TN303-43/2 | B1029211 | 七里坪旧书库（B103）
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可借 | 七里坪旧书库（B103） | |
| TN303-43/2 | B1029212 | 七里坪旧书库（B103）
T0448180 |
可借 | 七里坪旧书库（B103） |
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