MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:5
- 题名/责任者:
- 半导体存储器及其测试/林雨编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,1980
- ISBN及定价:
- 平装/CNY1.45
- 载体形态项:
- 368页;32
- 个人责任者:
- 林雨编著 著
- 中图法分类号:
- TN307
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN307/3 | A4194354 | 七里坪旧书库(B103) T0238874 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) | |
TN307/3 | B1004838 | 七里坪旧书库(B103) T0432052 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) | |
TN307/3 | B1006851 | 七里坪旧书库(B103) T0389659 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) |
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