MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 半导体的检测与分析/中国科学院半导体研究所理化分析编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,1984
- ISBN及定价:
- /￥3.70
- 载体形态项:
- 636页d32开
- 团体责任者:
- 中国科学院半导体研究所理化分析 编著
- 中图法分类号:
- TN304.07
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN304.07/1 | B0042804 |  L6楼密集书库（李子园）
LL009145 |
可借 | L6楼密集书库（李子园） | |
| TN304.07/1 | B0042805 | L6楼密集书库（李子园）
LL009146 |
可借 | L6楼密集书库（李子园） | |
| TN304.07/1 | A0651875 | 七里坪旧书库（B103）
T0211737 |
可借 | 七里坪旧书库（B103） | |
| TN304.07/1 | A4068462 | 七里坪旧书库（B103）
T0090954 |
可借 | 七里坪旧书库（B103） | |
| TN304.07/1 | K1054246 | 七里坪旧书库（B103）
T0313164 |
可借 | 七里坪旧书库（B103） | |
| TN304.07/1 | B0042806 | A社科6楼(李子园校区)
LL000206 |
可借 | A社科6楼(李子园校区) | |
| TN304.07/1 | B0042807 | A社科6楼(李子园校区)
LL000207 |
可借 | A社科6楼(李子园校区) |
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