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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:1

题名/责任者:
国外测试新技术:晶体中缺陷的X射线貌相术观察/中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译
出版发行项:
上海:上海科学技术情报研究所,1974
ISBN及定价:
151634.211/CNY1.50
载体形态项:
191页:图;26cm
其它题名:
晶体中缺陷的X射线貌相术观察
个人责任者:
主编
团体主要责任者:
本社编
团体责任者:
中国科学院上海冶金研究所X射线实验室
学科主题:
半导体技术-测量-外国
中图法分类号:
O72-5
中图法分类号:
TN307
题名责任附注:
题名、责任者取自版权页
书目附注:
有书目
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
O72-5/1JS MJ261847   B102密集书库(七里坪) QB232632     非可借 B102密集书库(七里坪)
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