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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：2

题名/责任者:
半导体测量和仪器/(美)鲁尼安(W.R.Runyan)编著
出版发行项:
上海:上海科学技术出版社,1980
ISBN及定价:
15119.2034/CNY1.15
载体形态项:
322页;20cm
并列正题名:
Semiconductor measurements and instrumentation
个人责任者:
鲁尼安 W.R. 编著
个人责任者:
Runyan W.R. 编著
团体主要责任者:
本社编
学科主题:
半导体材料-测试
学科主题:
半导体器件-测试
中图法分类号:
TN307
一般附注:
书名原文:Semiconductor measurements and instrumentatio
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN307/7 MJ314193   B102密集书库（七里坪） QB284978     新书：正在上架 B102密集书库（七里坪）
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