MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：1
- 题名/责任者:
- 计量与测试专利文摘 (上册)/上海科学技术情报研究所
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术出版社,1984
- ISBN及定价:
- 平装/CNY2.95
- 载体形态项:
- 281页;16开
- 个人责任者:
- 上海科学技术情报研究所 著
- 中图法分类号:
- Z89
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| Z89/54 | A4074500 |  七里坪旧书库（B103）
T0302962 |
可借 | 七里坪旧书库（B103） |
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