MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：19
- 题名/责任者:
- 漏磁成像理论与方法/黄松岭, 赵伟著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2016
- ISBN及定价:
- 978-7-302-43659-1/CNY49.00
- 载体形态项:
- 149页:图;26cm
- 丛编项:
- 电子信息与电气工程技术丛书
- 个人责任者:
- 黄松岭 著
- 个人责任者:
- 赵伟 著
- 学科主题:
- 漏磁场-电磁检验-缺陷检测
- 中图法分类号:
- TG115.28
- 书目附注:
- 有书目(第169-170页)。
- 提要文摘附注:
- 本书介绍漏磁检测基本原理、缺陷识别与量化理论及其实现技术，主要包括漏磁检测影响因素、检测信号处理方法、缺陷当量尺寸量化方法、缺陷轮廓反演、三维漏磁成像等几个方面内容。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TG115.28/21 | A0785523 |  自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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可借 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼） | |
| TG115.28/21 | A0785524 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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| TG115.28/21 | A0785525 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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可借 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼） |
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