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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：2

题名/责任者:
X射线衍射形貌术/(英)坦纳(Tanner,B.K.)著 赵庆兰译
出版发行项:
北京:科学出版社,1985
ISBN及定价:
13031.2852/CNY1.75
载体形态项:
228页;19cm
并列正题名:
X-Ray diffraction topography
个人责任者:
坦纳 B.K. 著
个人责任者:
Tanner B.K. 著
个人次要责任者:
赵庆兰 译
团体主要责任者:
本社编
学科主题:
晶体-X射线衍射分析
中图法分类号:
O72
一般附注:
书名原文: X-Ray diffraction topography.
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
O72/7JS MJ237524   B102密集书库（七里坪）     可借 B102密集书库（七里坪）
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