- 题名/责任者:
- 现代VLSI器件基础/(美) 陶元, 甯德雄著 黄如 ... [等] 译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2020.06
- ISBN及定价:
- 978-7-121-38073-0/CNY128.00
- 载体形态项:
- XXIII, 484页:图;26cm
- 丛编项:
- 集成电路系列丛书
- 个人责任者:
- 陶元 (Taur, Yuan) 著
- 个人责任者:
- 甯德雄 (Ning, Tak H.) 著
- 个人次要责任者:
- 黄如 译
- 学科主题:
- VLSI芯片-电路设计
- 中图法分类号:
- TN470.2
- 版本附注:
- 据原书第2版译出
- 书目附注:
- 有书目 (第460-484页)
- 提要文摘附注:
- 本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理, 这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的 ; 然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN470.2/4 | A3059912 |  自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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可借 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼） | |
| TN470.2/4 | A3059913 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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可借 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼） | |
| TN470.2/4 | A3059914 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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可借 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼） |
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