MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:4
- 题名/责任者:
- 电子元器件参数计量测试大全/本书编委会编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,1989
- ISBN及定价:
- 7-5053-0430-5/¥1.80
- 载体形态项:
- 771页d16
- 个人责任者:
- 本书编委会 编著
- 中图法分类号:
- TN606
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN606/2 | D0034704 | L3楼密集书库(李子园) LS012691 | 可借 | L3楼密集书库(李子园) | |
TN606/2 | D0034705 | L3楼密集书库(李子园) LS012692 | 可借 | L3楼密集书库(李子园) | |
TN606/2 | D0034706 | L3楼密集书库(李子园) LS012414 | 可借 | L3楼密集书库(李子园) | |
TN606/2 | D0034707 | L3楼密集书库(李子园) LS012415 | 可借 | L3楼密集书库(李子园) | |
TN606/2 | D0034708 | L3楼密集书库(李子园) LS012693 | 可借 | L3楼密集书库(李子园) | |
TN606/2 | B0043323 | A自科5楼(李子园校区) | 可借 | A自科5楼(李子园校区) |
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