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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：2

题名/责任者:
微电子测试结构/孙沩等编著
出版发行项:
北京:华东师范大学出版社,1984
ISBN及定价:
/￥1.00
载体形态项:
177页d32
个人责任者:
孙沩等 编著
中图法分类号:
TN307
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN307/2*1 B0042858   L6楼密集书库（李子园） LL009535     可借 L6楼密集书库（李子园）
TN307/2*1 B0042859   L6楼密集书库（李子园） LL009536     可借 L6楼密集书库（李子园）
TN307/2*1 B0042860   L6楼密集书库（李子园） LL009537     可借 L6楼密集书库（李子园）
TN307/2*1 B0042861   L6楼密集书库（李子园） LL009611     可借 L6楼密集书库（李子园）
TN307/2*1 B0042862   L6楼密集书库（李子园） LL009612     可借 L6楼密集书库（李子园）
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