MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度/李晓维[等]著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-03-027894-4 精装/CNY58.00
- 载体形态项:
- 11,344页;24cm
- 个人责任者:
- 李晓维 著
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试技术
- 学科主题:
- 数字集成电路
- 学科主题:
- 测试技术
- 中图法分类号:
- TN431.207
- 一般附注:
- 中国科学院科学出版基金资助出版
- 题名责任附注:
- 著者还有：韩银和、胡瑜、李佳
- 提要文摘附注:
- 本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN431.207/2 | A4178444 |  Q601密集书库（七里坪）
QL052858 |
可借 | Q601密集书库（七里坪） | |
| TN431.207/2 | A4178445 | Q601密集书库（七里坪）
QL052857 |
可借 | Q601密集书库（七里坪） | |
| TN431.207/2 | A4178443 | 七里坪八楼开架阅览室
|
阅览 | 七里坪八楼开架阅览室 | |
| TN431.207/2 | A4178446 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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可借 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼） |
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