MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:5
- 题名/责任者:
- 《中子嬗变掺杂(NTD)硅单晶应用与性能》/北京可控硅技术应用研究所 编著
- 出版发行项:
- 北京:北京可控硅技术应用研究所,1980.5
- ISBN及定价:
- 平装/CNY2
- 载体形态项:
- 56页;16开
- 个人责任者:
- 北京可控硅技术应用研究所 编著 著
- 中图法分类号:
- TN34
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN34/28 | B1007165 | 七里坪旧书库(B103) T0443051 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) |
显示全部馆藏信息