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题名/责任者:

纳米级集成电路系统电源完整性分析/(日) 桥本正德, (美) 拉杰·耐尔等著 戴澜, 陈铖颖, 张晓波译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-111-56987-9/CNY125.00

载体形态项:

XV, 314页:图;24cm

统一题名:

Power integrity for nanoscale integrated systems

丛编项:

微电子与集成电路先进技术丛书

个人责任者:

桥本正德 著

个人责任者:

耐尔 (Nair, Raj) 著

个人次要责任者:

戴澜 译

个人次要责任者:

陈铖颖 译

个人次要责任者:

张晓波 译

学科主题:

集成电路-电源电路

中图法分类号:

TN86

出版发行附注:

由麦格劳-希尔 (亚洲) 教育出版公司和机械工业出版社合作出版, 仅限中国大陆地区销售

相关题名附注:

英文题名取自封面

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

进入21世纪以来，集成电路制造工艺的发展日新月异，目前已经进入到了前所未有的纳米级阶段。电源完整性作为系统级芯片设计的重要课题，直接影响到集成电路的可靠性、性能以及功耗。因此，本书作者以系统级电源完整性为切入点，深入探讨了电源完整性的影响、时钟产生及分布、输入/输出单元中的电源完整性设计、电源完整性建模、温度效应以及低功耗电源完整性设计等方面的问题，并以IBMPOWER7+处理器芯片作为实例进行分析，后针对新型碳纳米管互连元件在电源完整性中的应用做了简要讨论。

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