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- 题名/责任者:
- 分析晶体缺陷的电子显微术/洛雷托M.H.;斯莫尔曼R.E.,KZCD编著
- 出版发行项:
- 北京:科学技术出版社,1979
- ISBN及定价:
- /￥0.46
- 载体形态项:
- 111页d32开
- 个人责任者:
- M.H.;斯莫尔曼R.E.,KZCD 编著
- 个人责任者:
- 淄蠱.H.;斯莫尔曼R.E. 编著
- 个人责任者:
- 淄蠱.H.;斯莫尔曼R.E.,KZCD 编著
- 团体责任者:
- 洛雷托M.H.;斯莫尔曼R.E. 编著
- 中图法分类号:
- TN153
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN153/2 | B0042513 |  L6楼密集书库（李子园）
LL009056 |
可借 | L6楼密集书库（李子园） | |
| TN153/2 | B0042514 | L6楼密集书库（李子园）
LL009057 |
可借 | L6楼密集书库（李子园） | |
| TN153/2 | B0042515 | L6楼密集书库（李子园）
LL009058 |
可借 | L6楼密集书库（李子园） | |
| TN153/2 | B0042516 | L6楼密集书库（李子园）
LL009055 |
可借 | L6楼密集书库（李子园） | |
| TN153/2 | B0042517 | L6楼密集书库（李子园）
LL009054 |
可借 | L6楼密集书库（李子园） |
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