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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:5

题名/责任者:
嵌入式软件测试实用技术/蔡建平编著 沈琦, 谢会东等编
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2010
ISBN及定价:
978-7-302-23231-5/CNY68.00
载体形态项:
472页:图;26cm
并列正题名:
Practical technology of embedded software testing
个人责任者:
蔡建平 编著
个人次要责任者:
沈琦
个人次要责任者:
谢会东
学科主题:
软件-测试
中图法分类号:
TP311.5
相关题名附注:
英文题名取自封面
书目附注:
有书目 (第465-472页)
提要文摘附注:
全书共9章,分为3部分:第一部分是对嵌入式软件开发技术的介绍,涉及嵌入式软件开发所用到技术的一些基本概念和基础知识;第二部分是本书的重点,讲述了嵌入式软件测试的一些基本概念重要技术和经典方法;第三部分是对嵌入式软件测试工具的全面介绍,覆盖了嵌入式软件测试各个方面的实际应用需求,书中的工具选型主要以嵌入式软件测试技术支撑、方法应用和在国内应用有其代表性为出发点,重点介绍了包括IBM Rational、Parasoft、Vector Software、FreeScale、领测科技、北航14系等多家著名公司在内的嵌入式软件测试产品或工具,形成了一整套的嵌入式软件测试解决方案。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TP311.5/70 A1058679   L6楼密集书库(李子园) LL048700     可借 L6楼密集书库(李子园)
TP311.5/70 A1058680   Q601密集书库(七里坪) QL061028     可借 Q601密集书库(七里坪)
TP311.5/70 A1058678   七里坪旧书库(B103) T0218072     可借 七里坪旧书库(B103)
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