MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：1
- 题名/责任者:
- 单板级JTAG测试技术/王承，刘治国编著
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2015
- ISBN及定价:
- 978-7-118-09986-7/CNY58.00
- 载体形态项:
- 10,205页:图;21cm
- 个人责任者:
- 王承 (1976-) 编著
- 个人责任者:
- 刘治国 (1977-) 编著
- 学科主题:
- 集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN407
- 提要文摘附注:
- 本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。书中内容包括：基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串行测试矢量；内建自测试和仿真测试；基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN407/2 | A6208715 |  自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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可借 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼） | |
| TN407/2 | A6208716 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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可借 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼） | |
| TN407/2 | A6208717 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼）
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可借 | 自然科学书库（七里坪新馆六楼） |
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