MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:2
- 题名/责任者:
- 半导体器件可靠性与失效分析/卢其庆
- 出版发行项:
- 江苏:江苏科学技术出版社,1981
- ISBN及定价:
- 平装/CNY1.70
- 载体形态项:
- 278页;16开
- 个人责任者:
- 卢其庆 著
- 中图法分类号:
- TN303-43
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN303-43/2 | A4041836 | 七里坪旧书库(B103) T0090994 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) | |
TN303-43/2 | A4041837 | 七里坪旧书库(B103) T0090995 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) | |
TN303-43/2 | A4073544 | 七里坪旧书库(B103) T0342805 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) | |
TN303-43/2 | A4073545 | 七里坪旧书库(B103) T0342582 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) | |
TN303-43/2 | B1023479 | 七里坪旧书库(B103) T0436208 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) | |
TN303-43/2 | B1029210 | 七里坪旧书库(B103) T0448179 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) | |
TN303-43/2 | B1029211 | 七里坪旧书库(B103) T0448181 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) | |
TN303-43/2 | B1029212 | 七里坪旧书库(B103) T0448180 | 可借 | 七里坪旧书库(B103) |
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