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题名/责任者:

X射线衍射形貌术/(英)坦纳(Tanner,B.K.)著 赵庆兰译

出版发行项:

北京:科学出版社,1985

ISBN及定价:

13031.2852/CNY1.75

载体形态项:

228页;19cm

并列正题名:

X-Ray diffraction topography

个人责任者:

坦纳 B.K. 著

个人责任者:

Tanner B.K. 著

个人次要责任者:

赵庆兰 译

团体主要责任者:

本社编

学科主题:

晶体-X射线衍射分析

中图法分类号:

O72

一般附注:

书名原文: X-Ray diffraction topography.

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