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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：2

题名/责任者:
半导体测试技术/孙以材编著
出版发行项:
北京:冶金工业出版社,1984
ISBN及定价:
/￥4.85
载体形态项:
499页d16
个人责任者:
孙以材 编著
中图法分类号:
TN307
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN304.07/2 B0042808   L6楼密集书库（李子园） LL006090     可借 L6楼密集书库（李子园）
TN304.07/2 B0042809   L6楼密集书库（李子园） LL006091     可借 L6楼密集书库（李子园）
TN304.07/2 B1024595   七里坪旧书库（B103） T0439742     可借 七里坪旧书库（B103）
TN304.07/2 B1024596   七里坪旧书库（B103） T0439741     可借 七里坪旧书库（B103）
TN307/2 B1036310   七里坪旧书库（B103） T0453104     可借 七里坪旧书库（B103）
TN304.07/2 A0651852   七里坪八楼开架阅览室     阅览 七里坪八楼开架阅览室
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