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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:6

题名/责任者:
空间单粒子效应:影响航天电子系统的危险因素/(美)Edward Petersen著 韩郑生[等]译
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2016.03
ISBN及定价:
978-7-121-28197-6/CNY79.00
载体形态项:
11,303页:图;26cm
并列正题名:
Single event effects in aerospace
其它题名:
影响航天电子系统的危险因素
丛编项:
国防电子信息技术丛书
个人责任者:
(美) 彼得森 (Petersen, Edward) 著
个人次要责任者:
韩郑生
个人次要责任者:
沈自才
个人次要责任者:
丁义刚
学科主题:
单粒子态
中图法分类号:
O571.24
出版发行附注:
由美国John Wiley & Sons. Inc.公司授权出版
提要文摘附注:
本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应,器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法,及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章,第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识;第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法;第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应;第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估;第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。
使用对象附注:
单粒子态相关专业人员
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
O571.24/1 A6215966   自然科学书库(七里坪新馆六楼)     可借 自然科学书库(七里坪新馆六楼)
O571.24/1 A6215967   自然科学书库(七里坪新馆六楼)     可借 自然科学书库(七里坪新馆六楼)
O571.24/1 A6215968   自然科学书库(七里坪新馆六楼)     可借 自然科学书库(七里坪新馆六楼)
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